Метод определения параметров формы пика секторного масс-спектрометра
T4N1
Метод определения параметров формы пика
секторного масс-спектрометра
О.Н. Перегудова, В.А. Покровскийб, Ю.В. Рогульскийа, А.Н. Бугайа
аИнститут прикладной физики НАН Украины, ул. Петропавловская 58,
40030 Сумы, Украина. E-mail: op@pochta.ru
бИнститут химии поверхности НАН Украины, ул. Генерала Наумова 17,
03164 Киев, Украина
Поступила в редакцию 13.09.2006 г.; после переработки — 31.01.2007 г.
Предложен метод определения параметров формы одиночных пиков секторных масс-спектрометров, который базируется на физических принципах формирования пика в приборах этого типа. Метод отличается простотой реализации и не требует предварительного сглаживания зарегистрированного сигнала, а также подбора параметров аппроксимации в зависимости от исходных данных. Метод может использоваться для анализа качества фокусировки ионно-оптической системы, а также в ка-честве робастного метода сглаживания зарегистрированных сигналов. Параметры одиночных пиков могут быть использованы для дальнейшего анализа масс-спектров многокомпонентных смесей в за-дачах разделения не полностью разделенных пиков. Метод легко реализуется в виде компьютерной программы и, в случае применения соответствующей библиотеки для научных расчетов, не требует программирования особых вычислительных алгоритмов. Вычислительный процесс определения параметров пика отлично распараллеливается, что позволяет повысить скорость расчетов в многопроцессорных системах либо в системах с многоядерными микропроцессорами и использовать предложенную методику для обработки масс-спектрометрических пиков в реальном времени.
